| Выява | Ключавая частка / Вытворца | Апісанне / PDF | Колькасць / RFQ |
|---|---|---|---|
 |
Texas Instruments |
IC REGISTERED BUFF 26BIT 96LFBGA. |
1740шт шт |
 |
ON Semiconductor |
IC ARITHMETIC LOGIC 4BIT 20-DIP. |
1732шт шт |
 |
ON Semiconductor |
IC INVERTER COMP PR DUAL 14-DIP. |
1723шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC 17-BIT TTL/BTL XCVR 100-HLQFP. |
1716шт шт |
 |
ON Semiconductor |
IC DRIVER RELAY DUAL 30V 8-DIP. |
10110шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA. |
10197шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA. |
10197шт шт |
|
Texas Instruments |
IC CONFIG REG BUFF 28BIT 176-BGA. |
10197шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC. |
10398шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC 10B ADDRSBL SCAN PORT 24TSSOP. |
11051шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP. |
11193шт шт |
 |
ON Semiconductor |
IC DRVR ECL QUAD 2.5V/3.3V 24QFN. |
11203шт шт |
 |
ON Semiconductor |
IC DRV/RCV ECL QUAD DIFF 20TSSOP. |
11203шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA. |
11216шт шт |
|
Texas Instruments |
IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA. |
11216шт шт |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC. |
11260шт шт |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC. |
11260шт шт |
|
Texas Instruments |
IC EMBEDDED TEST BUS CTRL 24SOIC. |
12402шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP. |
12789шт шт |
|
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP. |
12880шт шт |
Старонкі класіфікацыі
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка48
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка49
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка50
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка51
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка52
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка53
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка54
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка55
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка56
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка57
success