| Выява | Ключавая частка / Вытворца | Апісанне / PDF | Колькасць / RFQ |
|---|---|---|---|
 |
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9242шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9234шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9227шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9218шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9210шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9201шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9194шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9185шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9177шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9168шт шт |
|
Diodes Incorporated |
XO CLOCK. |
9161шт шт |
|
ON Semiconductor |
IC RCVR/DRVR 5V DIFF ECL. |
10854шт шт |
 |
Microchip Technology |
IC LINE RCVR QUINT DIFF 28-PLCC. |
9144шт шт |
|
ON Semiconductor |
IC RCVR/DRVR ECL DIFF VAR. |
9136шт шт |
 |
Maxim Integrated |
IC DCL DUAL 500MBPS ATE 100TQFP. |
9129шт шт |
|
Texas Instruments |
NON-STANDARD PART CALL FIRST. |
9120шт шт |
 |
IDT, Integrated Device Technology Inc |
IC REGISTER BUFF 13-26B 56VFQFPN. |
9112шт шт |
 |
ON Semiconductor |
TXRX BIDIRECT IEEE 48TSSOP. |
8184шт шт |
|
Maxim Integrated |
IC DCL DUAL 500MBPS ATE 100TQFP. |
9096шт шт |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC. |
10848шт шт |
Старонкі класіфікацыі
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка2
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка3
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка4
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка5
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка6
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка7
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка8
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка9
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка10
- Логіка - спецыяльнасць логікі - Старонка11
success