Cal Test Electronics - CT4079-NA

KEY Part #: K7289112

Падрабязнае апісанне:: OSCOPE PROBE X200/X2K 50MHZ 40M. Test Probes DIFF PROBE KIT 50MHz 3kV 200x/2000x NA

Катэгорыі сям'і:: KEY Components, LTD з'яўляецца дыстрыбутарам электронных кампанентаў, які прапануе катэгорыі прадуктаў, уключаючы: Абсталяванне - электрычныя выпрабавальнікі, токавы, Абсталяванне - зменныя трансфарматары, Абсталяванне - спецыяльнасць, Аксэсуары, Тэставыя лідыры - банан, інтэрфейс метра, Тэставыя вядучыя - камплекты, асартыменты, Тэрмометры and Тэставыя вядучыя - джампер, спецыяльнасць ...

Канкурэнтная перавага:: Мы спецыялізуемся на электронных кампанентах Cal Test Electronics CT4079-NA. CT4079-NA можа быць адпраўлены на працягу 24 гадзін пасля замовы. Калі ў вас ёсць якія-небудзь патрабаванні да С2, адпраўце запыт на прапанову сюды альбо адпраўце нам ліст: rfq@key-components.com

Частка нумар : CT4079-NA

Вытворца : Cal Test Electronics

Апісанне : OSCOPE PROBE X200/X2K 50MHZ 40M

Серыя : Elditest™, Cal Test

Статус часткі : Active

Тып : Active Differential

Значэнне паслаблення : 200:1, 2000:1

Прапускная здольнасць : 50MHz

Супраціў - Увод : 40M

Напружанне - Макс : 15000V (15kV) (DC + AC Peak)

Ёмістасць - увод : 1.3pF

Даўжыня кабеля : 39.370" (1000.00mm)

Колер : Black, Red, Yellow

Вы таксама можаце быць зацікаўлены ў

TC623CCPA

Microchip Technology

IC TEMP SNSR 3V DUAL TRIP 8-DIP. Board Mount Temperature Sensors Dual Prog Trip Point
302115105

Wurth Electronics Inc.

WE-LT CONDUCTIVE SHIELDING GASKE. EMI Gaskets, Sheets, Absorbers & Shielding WE-LT Profile 1000x11.5x10.5mm
VL-MPEE-E4E

VersaLogic Corporation

GIGABIT ETHERNET FIBER OPTIC.
U444-06N-DGU-C

Tripp Lite

USB 3.1 GEN 1 USB-C TO DVI EXTER. Interface Modules USB-C-DVI AdapterUSB Ahub USB-C PDEthrnet
DAC8728EVM

Texas Instruments

EVAL MODULE FOR DAC8728. Data Conversion IC Development Tools DAC8728EVM
DPP901A000

TE Connectivity Measurement Specialties

XPLAINED PRO MS8607. Temperature Sensor Development Tools Xplained Pro MS8607

Гарачыя часткі